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机译:使用盖革(Geiger)计数器X射线光谱仪确定直接反射样品首选取向的直接方法
Institute for the Study of Metals, University of Chicago, Chicago, Illinois;
机译:使用Geiger计数器X射线光谱仪确定平板透射样品的首选方向
机译:盖革计数器光谱仪上确定首选取向的反射方法
机译:盖革计数器X射线光谱仪的死区时间和非线性特性
机译:具有优先方向的深度分辨X射线表征方法
机译:末端感应电感耦合等离子体原子发射光谱仪(ICP-AES)和直接样品插入电感耦合等离子体原子发射光谱仪(DSI-ICP-AES)的研究。
机译:能量分辨率低于10 meV的石英基晶体谐振非弹性X射线散射光谱仪
机译:片剂中微晶的优选取向。 II。 X射线粉衍射法评价微晶的优选取向。