...
机译:通过原子探针层析成像和扩散电阻测量研究了碳共注入对硅中硼分布和活化的影响
Tohoku Univ, Inst Mat Res, Oarai Ctr, Oarai, Ibaraki 3111313, Japan;
Tohoku Univ, Inst Mat Res, Oarai Ctr, Oarai, Ibaraki 3111313, Japan;
Tohoku Univ, Inst Mat Res, Oarai Ctr, Oarai, Ibaraki 3111313, Japan;
Tokyo City Univ, Setagaya Ku, Tokyo 1588557, Japan;
Renesas Semicond Mfg Co Ltd, Itami, Hyogo 6640005, Japan;
Renesas Elect Corp, Hitachinaka, Ibaraki 3128504, Japan;
Tohoku Univ, Inst Mat Res, Oarai Ctr, Oarai, Ibaraki 3111313, Japan;
Tohoku Univ, Inst Mat Res, Oarai Ctr, Oarai, Ibaraki 3111313, Japan;
机译:通过原子探测断层扫描研究了高强度低碳HSLA-115钢中的碳再分配和碳化物沉淀
机译:掺杂硅纳米晶中硼和/或磷分布的原子探针层析成像分析
机译:原子探针层析成像和EELS对中碳钢中硼的原子尺度研究
机译:碳对3D原子探测断层扫描研究MOSFET阈值电压差的影响
机译:酚醛在活性炭上的吸附:孔径分布的影响。
机译:原子探针层析成像研究的甲醇-碳氢化合物反应过程中沸石晶体中的焦炭形成
机译:高硅钢的铁素体相中原子探针层析成像测量碳浓度
机译:半导体测量技术:用于双探针电阻(扩散电阻)和四探针电阻计算的计算机程序集合,REspaC。