机译:BIST预测试对IC缺陷水平的影响
Nara Institute of Science and Technology (NAIST), Ikoma-shi, 630-0192 Japan;
BIST; fault coverage; defect level;
机译:B-构型中双稳态(CiCs)(0)缺陷在n-Si禁带中的能级位置
机译:存在不可靠的BIST时的缺陷水平与产量和故障覆盖率的关系
机译:血清脑衍生治疗中的神经营养因子水平 - Na& 具有注意力缺陷/多动障碍的男孩用甲基苯酸地治疗:8周,观测到的预测试后期研究
机译:IC的BIST预测试:风险和收益
机译:用深层瞬态光谱法(DLTS)表征4H-SiC的缺陷及其对器件性能的影响
机译:对双稳态感知的低级机械学和高级贝叶斯解释的统一:皮层推理的神经元适应
机译:来自里约热内卢的桑巴舞青年的成熟和社会经济水平来自里约热内卢的桑巴舞青年的成熟和社会经济水平