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机译:使用停留在ATPG工具的过渡故障诊断测试的生成
Graduate School of Science and Engineering, Ehime University, Matsuyama-shi, 790-8577 Japan;
Graduate School of Science and Engineering, Ehime University, Matsuyama-shi, 790-8577 Japan;
Graduate School of Science and Engineering, Ehime University, Matsuyama-shi, 790-8577 Japan;
Graduate School of Science and Engineering, Ehime University, Matsuyama-shi, 790-8577 Japan;
STARC (Semiconductor Technology Academic Research Center), Yokohama-shi, 222-0033 Japan;
STARC (Semiconductor Technology Academic Research Center), Yokohama-shi, 222-0033 Japan;
fault diagnosis; test generation; transition faults; stuck-at ATPG;
机译:使用停留在ATPG工具的过渡故障诊断测试的生成
机译:使用卡在故障检测工具的过渡延迟故障诊断测试生成
机译:使用组合式ATPG进行非循环时序电路测试以解决单个卡死故障
机译:使用固定式ATPG工具生成过渡故障的诊断测试
机译:使用传统的基于故障卡住的自动测试模式生成工具来最大化非目标缺陷检测。
机译:基于环形计数器的ATPG用于低转换测试模式生成
机译:使用卡在ATPG工具生成过渡故障的诊断测试