机译:使用两个BSE检测器在SEM中进行稳健的表面重建
Graduate School of Information Science and Technology, Hokkaido University, Sapporo-shi, 0600814 Japan;
Yokohama Research Laboratory, Hitachi, Ltd., Yokohama-shi, 244-0817 Japan;
Graduate School of Information Science and Technology, Hokkaido University, Sapporo-shi, 0600814 Japan;
scanning electron microscope (SEM); surface reconstruction; shadowing compensation; backscattering electron;
机译:使用两个BSE检测器在SEM中进行稳健的表面重建
机译:三维表面地形成像在SEM中,具有改进的反向散射电子检测器:布置与重建算法
机译:使用具有微通道板BSE检测器的场发射SEM对聚合物进行成分成像
机译:使用两个BSE检测器在SEM中进行稳健的表面重建
机译:来自多视图图像的3D SEM表面重建
机译:从3d点云彩的植物植物的鲁棒表面重建
机译:使用两个BSE检测器在SEM中进行稳健的表面重建
机译:皮埃尔奥格天文台表面探测器阵列的重建精度。