平衡構造を利用した安全なスキャン設計

摘要

In this paper, we propose a secure scan design which protects scan-based side channel attacks to the circuits containing secret information such as cryptographic circuits. The proposed method prevents the leakage of secret information by partial scan design based on the balanced structure and a data confusion mechanism while shifting scan chain. We also guarantee the testability of both the design under test and DFT circuitry, and therefore, realize both security and testability. Experiments for a RSA circuit shows the effectiveness of the proposed method.%暗号回路といった秘密情報を内部に持つ回路に対するスキャン設計を利用したサイドチャネル攻撃に耐性のある安全なスキャン設計法を提案する．提案法では，平衡構造に基づく部分スキャン設計，スキャンチェーンシフト時のデータ混乱化により，スキャンチェーンからの秘密情報の漏洩を防止する．また，被テスト回路およびテスト容易化設計による付加回路のテスト容易性を保証し，スキャン設計における安全性とテスト容易性の両立を実現している．さらに，RSA回路に対する実験を行い，提案手法の有効性を示す．