セキュアスキヤン設計におけるシフトレジスタ等価回路の微分動作同値類について

摘要

It is important to find an efficient design-for-testability methodology that satisfies both security and testability though there exists an inherent contradiction between security and testability for digital circuits. The authors reported a secure and testable scan design approach by using extended shift registers that are functionally equivalent but not structurally equivalent to shift registers [11], and clarified each cardinality of several classes of shift register equivalents (SR-equivalents) as well as the whole class of SR-equivalents [12,13]. A new concept of differential behavior equivalent relation for extended shift registers is introduced in this paper. The structures of equivalent classes for several types of extended scan circuits are analyzed and their numbers of equivalent classes and their cardinalities are derived.%セキュリティとテスタビリティは相反する性質であるが，それらを両立させることは重要である．セキュア（安全）でテスタブル（テスト容易）な回路設計が望まれている．筆者らは先に，シフトレジスタ等価回路を利用した安全でかつテスト容易なスキャン設計法を提案し，いくつかの線形回路構造を対象にシフトレジスタ等価回路族の濃度を明らかにした本稿では，組合せ回路側からのスキャンベース攻撃を考察するために，シフトレジスタ等価回路から成る拡張スキャン回路モデルを導入し，微分動作攻撃を防御する方法として，ダミーフリップフロップを利用したシフトレジスタ等価スキャン回路を提案する．それらのセキュリティレベルを明らかにするために，シフトレジスタ等価スキャン回路に対して微分動作同値関係を導入し，いくつかの線形回路構造を対象にそれらの同値類の個数や濃度を考察する．