首页> 外文期刊>電子情報通信学会技術研究報告 >パッケージーPCB間に生じる寄生結合によるパッケージコモンモード共振
【24h】

パッケージーPCB間に生じる寄生結合によるパッケージコモンモード共振

机译:封装和PCB之间的寄生耦合导致封装共模谐振

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

摘要

Package-common-mode resonance which is caused by a parasitic capacitance and parasitic inductances between package and PCB grounds makes degradation of signal and power integrity. A parasitic capacitance between a package ground and a PCB ground anti-resonates with a parasitic inductance at ground connections such as solder balls in a BGA package. In this resonance, currents flow on power and ground lines in the package with the same phase. Thus, the authors name this antiresonance "Package-common-mode resonance". The package-common-mode resonance causes the power and/or ground bounce and increase of jitter of the output signal. According to measurement results of test boards, the resonance frequency is depend on the number of ground connection because the parasitic inductance is decreased by increasing ground connection. For example, the resonance frequency was changed from 575 MHz to 862 MHz in the test board when the number of the ground connection was decupled.%LSIパッケージとそれを実装するPCB間に生じる寄生容量に起因するパッケージコモンモード共振が、電源品質や信号品質を悪化させることを数値計算および実験的に実証した。パッケージとPCBの両グラウンド間寄生容量と接続部の寄生インダクタンスが数100MHzで反共振し、パッケージの電源線とグラウンド線を同相に電流が流れることからパッケージコモンモード共振と名付けた。この共振により、パッケージやPCB上の電源電位やグラウンド電位が大きくバウンスすることを等価回路を用いた数値計算より示した。また、このバウンスによって出力信号のジッタが増大することを示した。試験基板を用いて、パッケージーPCB間の寄生容量およびグラウンド間の接続インダクタンスを測定した。さらにグラウンド間の接続数を多くし寄生インダクタンスを減少させることで、例えば試験基板では共振周波数が575MHzから862MHzと高周波側に移動することを述べた。
机译:由封装和PCB接地之间的寄生电容和寄生电感引起的封装共模谐振会降低信号和电源完整性。封装接地和PCB接地之间的寄生电容会在接地连接(例如BGA封装中的焊球)处与寄生电感产生反谐振。在这种谐振中,电流以相同的相位流过封装中的电源线和地线。因此,作者将此反共振命名为“包装共模共振”。封装共模谐振会导致功率和/或接地反弹,并增加输出信号的抖动。根据测试板的测量结果,谐振频率取决于接地点的数量,因为寄生电感会通过增加接地点而减小。例如,当接地线的数量加倍时,测试板上的谐振频率从575 MHz更改为862 MHz。%LSIパッケージとジ装するPCB间に生じる寄生电容に起因するパッケージコモンモード共振が,电源品质や信号品质を悪化させることを数値计算値的および実験的した证した。こ同相に电流が流れることからパッケージコモンモード共振共振名名试験基板を用いて,パッケージーPCB间の寄生电容およびグラウンウ间の接続インジクタンスを测定した。さらにグラウンド间の接続数をとで,例えば试験基板では共振周波数が575MHzから862MHzと高周波侧に移动することを述べた。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号