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同時多重に発生する過渡故障に耐性を持つ順序回路の提案と評価

机译:同时发生多个暂态故障的顺序电路的建议和评估

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摘要

本研究では,著者らの研究グループが提案したレジスタニ重化による順序回路高信頼化手法の拡張について検討する.レジスタの三重化によって,過渡故障が同時多重に最大2クロック周期の長さまで継続しても自己回復可能な手法を提案する.この手法を小規模なプロセッサコアに適用し,実際に耐故障性を強化する例を示す.回路全体の面積オーバミヘッドを評価し,想定した耐故障性を確認する.%This paper discusses the extension of highly reliable technique for sequential circuits using duplicate register which has been already presented by author's research group. A new approach by triplicate register enables the circuit to recover even in the case that simultaneous occurrence of multiple transient faults continues for 2 clock cycles. The concrete microprocessor for applying this technique is constructed to exhibit actually enhanced dependability. Overhead on circuit area is estimated and the fault tolerance under our assumptions is confirmed.
机译:在这项研究中,我们研究了由研究小组提出的通过寄存器复制来提高时序电路可靠性的方法的扩展。通过三重注册,我们提出了一种方法,即使瞬态故障连续最多同时发生2个时钟周期,也可以恢复自身。给出了将这种方法应用于小型处理器内核以实际增强容错能力的示例。评估整个电路的面积开销,并确认假定的容错能力。本文讨论了使用重复寄存器的时序电路的高可靠性技术的扩展,作者研究小组已经提出了这种方法。通过三重寄存器的新方法即使在同时发生多个瞬态故障的情况下,电路也能够恢复。 2个时钟周期。构造用于应用该技术的具体微处理器,以显示出实际上增强的可靠性。估计电路面积的开销,并确认我们假设下的容错能力。

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