非正常系現象に着目した組込みシステムの障害シナリオ分析手法

摘要

This paper describes an analysis matrix and its method for extracting failure scenarios named ESIM (Embedded System Improving Method) in order to improve the safety of embedded system products such as the household electrical appliances. The method extracts product failures at the definition of the software requirement specifications. We can extract product failures by using existing failure analysis method when the failure occurs due to single serious fault of one device of the product. On the other hand, it is difficult to extract a failure which occurs by overlapping some minor faults although it is a serious problem. Especially, it is hard to extract failures that can only be found by analyzing the timing of the fault occurrence dynamically. This paper refines the analysis matrix which can dynamically analyze overlapping minor faults. It also describes a case study applied to an actual product development project, and discusses about effectiveness and practicality.%家電製品等のソフトウェア組込み製品の安全性を向上させるため，ソフトウェアの要求仕様設定時に製品の障害発生可能性を発見する手段として，分析マトリクスとそれを適用した障害シナリオ分析手法ESIM（Embedded System Improving Method）について述べる.組込みシステムの障害には，製品の中の一装置が重大な故障を起し，それが唯一の原因となって発生するものと，軽微な故障がいくつか重複して発生するものがある.前者は，既存の障害分析手法によって想定できているが.後者は，重大なものがあるにも係わらず，その軽微な故障の存在も含めて，想定が困難となっている.特に，いくつかの故障の発生タイミングを動的に分析しなければ判明しない障害は，想定が困難である.本稿では，後者の障害を分析するための分析マトリクスの概念を明確にするとともに，実用性を考慮した分析範囲の絞り込み方法について述べる.また，実用性と有効性を確認するために，実際のプロジェクトに適用した.