TTLを使用した半導体の劣化と放射妨害波の関係の検討

摘要

Various information is included in the electromagnetic waves leaked from an electronic device. If information required for maintenance of an electronic device is acquirable from the electromagnetic waves, we can estimate the degradation of the devices by non-contact. Then, the relation between the degradation and the emitted electromagnetic field was investigating by using a TTL. TTL was selected as the devices for experiment and heat deterioration was carried out for the investigation. The investigation suggests following results; 1) Degradation of TTL advances by Arrhenius equation and the process is independent from the method of heating, 2) The emission level from TTL decreases according to degradation of TTL, 3) More investigation is needed to identify the degrading TTL from leaked electromagnetic field although the magnetic field distribution changes by existing of the degrading TTLs.%電子機器から漏洩する電磁波にはさまざまな情報が含まれている.この情報の中より，電子機器の劣化に必要な情報を取得できれば，非接触で機器の診断が可能となる.そこで，まず，単純な半導体素子であるTTLを熱劣化させ，劣化のレベルと放射妨害波の関係を検討した.その結果，1) TTLは外部から熱を加えても，負荷を大きくしてチップの温度を上げても，アウレニウスの式に従って劣化をすること，2) TTLの場合 は，劣化により放射妨害波のレベルが下がること，3) TTLの劣化により，ボード上の磁界，電界分布に変化が現れるが，これより劣化したTTLを 特定するにはさらなる検討が必要であることがわかった.