机译:3维内置自我修复方案,可提高3维存储器的良率
Dept. of Electr. & Electron. Eng., Yonsei Univ., Seoul, South Korea;
3D built-in self-repair; 3D memory; area overhead; built-in redundancy analysis; built-in self-test; repair rate; yield;
机译:基于可配置备件的内存内置自修复方案
机译:ReBISR:用于SOC中随机访问存储器的可重新配置的内置自修复方案
机译:内置的闪存自我修复方案
机译:结合了内置自我修复和纠错码的内存产量提高方案
机译:OpenRam记忆的内置自我修复
机译:使用分形维数评估基于内容的医学图像检索方案的性能改进
机译:一种用于3D记忆的新型内置自修复方案
机译:构造结构元素多维广义屈服和破坏面的改进方案