机译:42V-PowerNet中功率MOSFET的可靠性分析和建模
Electrothermal effects; Modeling; Power metal-oxide semiconductor field-effect transistors (MOSFETs); Reliability;
机译:基于实验温度分布分析的雪崩模式功率MOSFET可靠性模型
机译:借助紧凑模型和电路仿真对功率MOSFET进行可靠性分析
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机译:使用原子和器件仿真对4h碳化硅功率MOSFET的可靠性和性能进行集成建模。
机译:潜在增长曲线模型中边坡变化的精度可靠性和影响大小:对统计功效分析的启示
机译:42V-powerNet中功率mOsFET的可靠性分析与建模
机译:利用siC功率mOsFET的硬开关Boost功率处理单元的长期可靠性。