机译:数据驱动的SiC MOSFET故障预测方法
Univ Connecticut Storrs CT 06269 USA;
Univ Connecticut Storrs CT 06269 USA|Amer Univ Beirut Beirut 11072020 Lebanon;
Toyota Res Inst North Amer Ann Arbor MI 48105 USA;
Prognostics and health management; Semiconductor device modeling; Degradation; Silicon carbide; Performance evaluation; MOSFET; Fault diagnosis; fault prognosis; power electronics; real-time systems; unsupervised learning;
机译:包含扩展堆叠故障的SiC-MOSFET的开关可靠性
机译:模拟中增强的数据驱动方法可实现可靠的故障预测
机译:时间序列数据驱动在SCADA数据丢失存在下风力涡轮机故障的在线预后
机译:使用数据驱动方法进行卫星反应轮故障预后的时间序列预测
机译:数据驱动的方法,用于控制性能监视和故障诊断。
机译:多传感器数据的故障诊断:基于频谱聚类和成对约束的数据驱动方法
机译:SiC-MOSFET的切换操作的故障及堆垛机构对安全操作区域的影响