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机译:中子辐照的CMOS将来自150至180纳米技术的DCR性能
Dipartimento di Ingegneria Industriale e dell’Informazione Università degli Studi di Pavia Pavia Italy;
DSFTA Università di Siena Siena Italy;
Dipartimento di Fisica e Astronomia Università di Padova Padua Italy;
Dipartimento di Ingegneria Industriale Università di Trento Trento Italy;
Dipartimento di Ingegneria Industriale Università di Trento Trento Italy;
DSFTA Università di Siena Siena Italy;
Istituto Nazionale di Fisica Nucleare (INFN) Pisa Pisa Italy;
Dipartimento di Ingegneria Industriale Università di Trento Trento Italy;
Dipartimento di Ingegneria Industriale e dell’Informazione Università di Pavia Pavia Italy;
Istituto Nazionale di Fisica Nucleare (INFN) Pavia Pavia Italy;
Neutrons; Radiation effects; CMOS technology; Photonics; Semiconductor device modeling; Performance evaluation; Junctions;
机译:中子辐照CMOS SPAD中的暗计数速率分布
机译:采用螺旋变压器的紧凑型5 GHz功率放大器,可增强180nm CMOS技术的电源抑制能力
机译:采用螺旋变压器的紧凑型5 GHz功率放大器,可增强180nm CMOS技术的电源抑制能力
机译:环形振荡器和电流不足的VCO在180nm CMOS技术中的比较和性能分析
机译:CMOS技术中的双极性器件表征和设计,用于设计高性能低成本BiCMOS模拟集成电路
机译:基于CMOS SPAD的图像传感器的单光子计数性能和噪声分析
机译:6800 - $ MU $ M2电阻的温度传感器,±0.35°C(3 $ SIGMA $)180-NM CMOS不准确