机译:性能测试中的算法和分析技术
School of EE, Tel-Aviv University, Ramat Aviv, 10027, Israel;
机译:利用优化算法和有限元分析表征弹性塑料涂层材料特性的缩进技术及有限元分析
机译:遗传算法效率和有效性及数据流动测试中自适应随机技术的实证比较
机译:开发用于测试电工钢磁性能的技术。二。磁性能的变化及其对测试结果可靠性的影响(评论文章)
机译:两种测试SPL的组合技术算法的比较分析—六个SPL的探索性研究
机译:用于多芯片模块互连的性能和功能测试的可测试性技术和优化算法的设计。
机译:使用伊朗因果算法比较降雨变异性的因果技术
机译:低温测量的实验技术:低温测量的低温设计,材料性能和超导体临界电流测试实验技术,用于低温测量:低温恒温器设计,材料特性和超导体临界电流测试,杰克W. ekin,牛津U.按,纽约,2006年。$ 125.00(673 pp)。 ISBN 978-0-19-857054-7