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DesignCon highlights IP and interconnect as well as test and measurement

机译:DesignCon重点介绍IP和互连以及测试和测量

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摘要

DesignCon, held Jan. 31 to Feb. 1 in Santa Clara, provided companies an opportunity to highlight their products and technologies for high-speed digital-communications applications. Relevant products from DesignCon exhibitors including ANSYS, Cadence Design Systems, Keysight Technologies, Molex, National Instruments, Rohde & Schwarz, and Tektronix were highlighted in our January Special Report on high-speed digital design, interconnect, and test. In the runup to and during the event, companies have reported additional capabilities related to IP, components, interconnect, and test and measurement.
机译:DesignCon于1月31日至2月1日在圣塔克拉拉(Santa Clara)举行,为公司提供了展示其用于高速数字通信应用的产品和技术的机会。我们在1月份有关高速数字设计,互连和测试的特别报告中重点介绍了DesignCon参展商的相关产品,其中包括ANSYS,Cadence设计系统,Keysight技术,Molex,National Instruments,Rohde&Schwarz和Tektronix。在活动进行期间和活动期间,公司报告了与IP,组件,互连以及测试和测量相关的其他功能。

著录项

  • 来源
    《Evaluation Engineering》 |2018年第3期|26-27|共2页
  • 作者

    Rick Nelson;

  • 作者单位
  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

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