Die Omega-Serie der tragbaren XRF-Metallanalysatoren von Innov-X Systems wurden um den Omega X-pres erweitert. Mit neuer noch leistungsfähigerer Detektortechnik, den Silizium-Driftkammer-Detektoren (SDD), wird die Trennschärfe für die Unterscheidung verschiedener Metalle und Legierungen wesentlich verbessert. Die verwendeten SD-Detektoren bieten eine bis zu dreimal höhere Messgenauigkeit, wesentlich niedrigere Nachweisgrenzen und eine deutliche Beschleunigung der Messwertverarbeitung. Der SD-Detektor ist tief im Inneren des Messkopfes platziert und somit gegen mechanische Beschädigungrngeschützt. Je näher das dünne Detektorfenster an das Messfenster heranrückt, umso größer wird das Risiko für Beschädigungen im Alltagsbetrieb und kostenintensive Reparaturen außerhalb der Garantien folgen.
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