Ellipse-fitting algorithm implementation in the impedance measurement system based on DAQ card with FPGA

摘要

W artykule omówiono implementację algorytmu ellipse-fitting w systemie pomiarowym impedancji na bazie karty DAQ z układem FPGA. Implementacja metody została przebadana zarówno symulacyjnie jak również eksperymentalnie w zaprezentowanym systemie. Przedstawiono minimalne wartości parametrów próbkowania dla zapewnienia akceptowalnej dokładności.%The paper presents an implementation of the ellipse-fitting algorithm in the impedance measurement system based on DAQ card equipped with FPGA chip. The method implementation was tested by simulation means as well as experimentally in the designed and presented measurement system. Finally, the limit values of sampling parameters which assures satisfying accuracy were given.