A method of self-testing of an analog circuit terminated by an ADC in electronic embedded systems controlled by microcontrollers

摘要

A new self-testing method of analog parts terminated by an ADC in electronic embedded systems controlled by microcontrollers is presented. It is based on a new fault diagnosis method based on on-line (i.e. during measurement), transformations of voltage samples of the time response of a tested part to a square pulse - onto localization curves placed in the measurement space. The method can be used for fault detection and single soft fault localization.%Przedstawiono nową metodę samotestowania toru analogowego zakończonego przetwornikiem A/C w elektronicznych systemach wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Bazuje ona na nowej metodzie diagnostycznej opartej na przekształceniach transformujących na bieżąco, tj. w trakcie pomiarów, próbki odpowiedzi czasowej badanej części analogowej na pobudzenie impulsem prostokątnym na krzywe lokalizacyjne w przestrzeni pomiarowej. Metoda ta pozwala na detekcję i lokalizację pojedynczych uszkodzeń parametrycznych w układach analogowych.