National Instruments präsentiert ihr Semi-conductor Test Systems (STS). Es handelt sich dabei um PXI-basierte automatisierte Testsysteme, welche die Prüfkosten für RF-und Mixed-Signal-Geräte senken, indem sie die Integration von PXI-Modulen in Prüfumgebungen der Halbleiterproduktion ermöglichen. Anwender, die ihre konventionellen automatisierten Halbleiterprüfsysteme bereits durch STS ersetzt haben, profitieren von geringeren Produktionskosten sowie einem höheren'Durchsatz und können für Charakterisierung und Produktion dieselben Hard- und Softwarewerkzeuge einsetzen. So wird weniger Zeit für die Korrelation von Daten benötigt. Die offene, modulare Architektur eines STS gibt Anwendern Zugang zu den PXI-Messgeräten, den die Anwender von klassischen automatisierten Testsystemen aufgrund ihrer geschlossenen Architektur nicht erhalten. Insbesondere bei RF- und Mixed-Signal-Tests macht dies jedoch einen großen Unterschied, da die Anforderungen der aktuellen Halbleitertechnologien häufig die Testabdeckung klassischer automatisierter Testsysteme übersteigen.
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