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机译:超陡逆行通道掺杂分布对扩展器件性能的影响
机译:掺杂分布对埋沟道SiGeC / Si异质结构MOS器件潜在性能的影响
机译:栅极凹槽轮廓对Ga / sub 0.51 / In / sub 0.49 / P / In / sub 0.2 / Ga / sub 0.8 / As掺杂沟道FET器件性能的影响
机译:栅极线边缘粗糙度对短沟道MOSFET器件掺杂轮廓影响的仿真研究
机译:离子注入引入的3D FinFET掺杂轮廓的仿真及其对器件性能的影响
机译:女性奥运运动员的内分泌概况:对物理性能的重要性和对抗兴奋剂测试的影响
机译:铜掺杂对基于La的RRAM器件性能的影响
机译:横向非对称沟道掺杂对深亚微米混合信号器件和电路性能的影响
机译:掺杂分布对BaRITT器件性能的影响。