机译:包括高压和浮体效应的部分耗尽型绝缘体上硅漏极扩展MOSFET(DEMOSFET)的紧凑模型
Department of Electrical Engineering, Indian Institute of Technology Delhi, New Delhi, India;
Compact model; floating-body effects; high-voltage (HV) devices; impact ionization; kink effect; quasi-saturation; scalability; silicon-on-insulator drain-extended MOSFETs (SOI DEMOSFETs); subcircuit approach;
机译:模拟完全耗尽,部分耗尽和人体接地的SOI MOSFET的浮体效应
机译:紧凑模型,用于部分耗尽的SOI MOSFET在高温下的单事件瞬态和总剂量效应
机译:完全耗尽的SOI-MOSFET的完全基于表面电势的紧凑模型,包括短沟道效应
机译:利用HiSIM-HV紧凑模型对带有子电路的部分耗尽SOI DEMOSFET进行建模
机译:对部分耗尽的绝缘体上硅MOSFET的瞬态辐射影响进行建模和仿真。
机译:面向低电压低能耗的超薄绝缘体上硅MOSFET低频噪声行为的经验和理论模型
机译:基于表面电位的紧凑型模型,用于部分耗尽的绝缘体上硅mOsFET