机译:薄膜As2S3,As2Se3和GeSe2的光声光谱
机译:impurities杂质对As2Se3和(As2S3)(0.3)(As2Se3)(0.7)光电性能的影响
机译:在垂直和倾斜入射条件下沉积的As2S3和As2Se3薄膜的光学性质的光诱导变化
机译:光声光谱法评价晶体薄膜混合
机译:无定形(As2S3)的光学常数的计算:( as2se3) 1-x:snx薄膜
机译:薄膜材料的机械性能的光声导波和体波表征。
机译:超快光在GeSe2薄膜的子带隙区域引起异常宽泛的瞬态吸收
机译:用于表征薄膜的光声角共振光谱
机译:通过10.6微米和0.6328微米椭圆偏振仪测量和0.6328微米反射器测量,在KCl基板上的as2s3,as2se3和Znse薄膜中的应变诱导各向异性。