Uso De La Corrección Del Ensanchamiento Instrumental Para El Análisis Microestructural Mediante El Método De Rietveld

摘要

Realizar la caracterización estructural y microestructural mediante el método de Rietveld, involucra conocer todas las contribuciones al perfil, incluyendo la Función de Resolución Instrumental ( Instrumental Resolution Function , IRF) la cual describe el ensanchamiento ocasionado por la geometría óptica del difractómetro. Las principales dificultades encontradas en los cálculos numéricos de la función instrumental están asociadas con el amplio rango de parámetros instrumentales: goniómetro, muestra, longitud de onda de la fuente de rayos-X, rendijas de divergencia ( Divergence Slit , DS) y recepción ( Receiving Slit , RS), el uso o no de las rendijas soller ( Soller Slits, SS) en el haz incidente y/o difractado, el uso o no del monocromador, entre otros. Por estas razones, efectuar el análisis microestructural de un material usando difracción de rayos-X de muestras policristalinas, es un procedimiento complejo que involucra conocimientos profundos tanto a nivel teórico como experimental de todos los factores de un perfil, de esta manera es posible extraer información importante para un amplio rango de campos a nivel tecnológico e investigativo, que utilizan esta técnica como parte fundamental en sus procesos.