Süperiletken Fe y Se 1-x Te x ince filmleri MgO altl?klar üzerine Rf püskürtme y?ntemi kullan?larak üretildi ve üretim ko?ullar?n?n ince filmlerin mikroyap?s? üzerindeki farkl?l?klar? incelendi. Bunun yan?s?ra üretilen ince filmlerin Te IKβ/IKα fluorescence ?iddet oranlar? tahripsiz EDXRF spektroskopisi kullan?larak ?al???ld?. Fe y Se 1-x Te x ince filmleri 59,5 keV enerjili radyoaktif 241-Am kayna??ndan yay?lan γ-fotonlar? ile uyar?ld? ve 5.9 keV’ta rezülasyonu 150eV olan Ultra-LEGe dedekt?rü ile veriler tespit edildi. Elde edilern sonu?lar, vakum ve Ar atmosferi bas?nc?n?n numunelerin Te ?iddet oranlar?n?n?n de?i?imine sebep olabilece?ini g?sterdi.
展开▼
机译：利用Rf溅射法在MgO衬底上制备了超导Fe y Se 1-x Te x薄膜，并在生产条件下确定了薄膜的微观结构。差异上？已经检查过了。此外，Te IK /IKα荧光？产生的薄膜的暴力率？通过使用非破坏性EDXRF光谱来使用。 Fe y Se 1-x Te x薄膜是从放射性241-Am源发出的光子，能量为59.5 keV。警惕吗？然后使用Ultrae-LEGe检测器在5.9 keV的条件下确定150eV的电压来确定数据。获得的结果表明，真空和Ar气氛的压力可能会导致样品的违规率发生变化。
展开▼
