机译:基于重置和部分重置的功能广泛测试
Purdue University, IN, USA;
机译:将宽边测试视为部分功能的宽边测试的过渡故障模拟
机译:局部扫描电路的宽带测试和功能宽带测试
机译:将功能性测试序列分配到多网功能广域试验中
机译:基于重置的功能性侧面测试
机译:过渡故障和过渡路径延迟故障:测试生成,路径选择以及功能性侧面测试的内置生成。
机译:利用肖特基接触和表面功能化来大幅提高ZnO UV纳米传感器的响应和复位时间
机译:基于正式的验证,具有宽边扫描测试的过渡故障的冗余识别
机译:微型车辆和突破性灯具支持的30英尺宽带影响。测试结果报告:测试号1785-sI No.6-88