机译:基于算术模块的内置自测试架构,可进行两模式测试
Technological Educational Institute of Athens, Athens, Greece;
机译:用于内置两模式测试的TPG电路的元胞自动机实现
机译:算术BIST的有效两模式测试生成器
机译:内置可测试性的可逆算术逻辑单元设计
机译:用于数字信号处理架构的算术内置自检
机译:用于DSP架构的算术内置自测。
机译:独特的内置可扩展前路脊柱内固定系统的生物力学测试
机译:基于重定时的数据路径体系结构自测试模式生成器设计
机译:定制LsI / VLsI电路的测试和可测试性的最新评估。第七卷。内置测试(BIT)和内置测试设备(BITE)