机译:通过直接探测有机场效应晶体管的电势降来了解接触电阻问题
Institute of Physics, Slovak Academy of Sciences, Dubravská Cesta 9, 845 11 Bratislava 45, Slovakia2Department of Physical Electronics, Tokyo Institute of Technology, 2-12-1 O-okayama, Meguro-ku,Tokyo 152-8552, Japan;
机译:通过直接探测有机场效应晶体管的电势降来了解接触电阻问题
机译:光学二次谐波产生对有机场效应晶体管电极接触处的电位降的评估
机译:溶液可加工四苯并卟啉影响底部接触有机薄膜晶体管局部电势下降的因素
机译:通过纳米探测技术改进了对DRAM晶体管的评估,并针对实际芯片触点进行了精确的电阻测量
机译:用于高性能WSe2和MoS2晶体管的二维低电阻触点。
机译:在有机晶体管中实现完全分析接触电阻的表达
机译:单晶体管方法提取有机场效应晶体管中的接触电阻和沟道电阻
机译:利用直接栅场效应晶体管测量航天器表面电位的探讨