机译:有效沟道长度对不同退火温度下自对准共平面非晶铟镓锌氧化锌薄膜晶体管的影响
Korea Univ, Dept Appl Phys, Sejong City 30019, South Korea;
Samsung Display Co Ltd, Display R&D Ctr, Yongin 17113, Gyeonggi Do, South Korea;
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Korea Univ, Dept Appl Phys, Sejong City 30019, South Korea;
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机译:出版商的注意事项:“界面过量氧对自排列共青薄膜薄膜晶体管的正偏压稳定性的影响”苹果酱。物理。吧。 108,141604(2016)