机译:SrTiO_(3)薄膜在微波频率下非本征和本征介电损耗机制之间的交叉
Ceramics Laboratory, Swiss Federal Institute of Technology, EPFL, CH-1015 Lausanne, Switzerland;
机译:微波频率下SrTiO_3薄膜的内在和外在损耗贡献
机译:PbZr0.52Ti0.48O3薄膜的介电行为:本征和外在介电响应
机译:微波频率下高K薄膜的介电常数和损耗的测定
机译:微波和太赫兹频率下薄膜的介电常数测量
机译:微波和太赫兹频率下薄膜的介电常数测量。
机译:具有本质上可光图案化的超薄聚合物介电层的高性能p型有机薄膜晶体管
机译:量化在PBZR1-Xtixo3薄膜中的内在,外在,电介质和二次热电反应