首页> 外文期刊>Applied Physicsletters >40 Gb/s surface-illuminated Ge-on-Si photodetectors
【24h】

40 Gb/s surface-illuminated Ge-on-Si photodetectors

机译:40 Gb / s表面照明的Ge-on-Si光电探测器

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

摘要

This paper reports on surface illuminated Ge photodetectors monolithically integrated on Si substrate operating in the C and L wavelength bands. The responsivity at a wavelength of 1.5 μm ranges from 0.08 to 0.21 AAV without bias voltage for Ge mesa diameter ranging from 10 to 25 μm, respectively. The measured -3 dB cut-off frequency is as high as 49 GHz under a reverse bias of 5 V at a wavelength of 1.5 μm. An open eye diagram up to 40 Gbit/s is also demonstrated.
机译:本文报道了在C和L波段工作的单片集成在Si衬底上的表面照明Ge光电探测器。对于Ge台面直径范围为10至25μm,在没有偏置电压的情况下,在1.5μm的波长下的响应度为0.08至0.21AAV。在1.5 V的波长下,在5 V的反向偏置下,测量到的-3 dB截止频率高达49 GHz。还展示了高达40 Gbit / s的睁眼图。

著录项

  • 来源
    《Applied Physicsletters》 |2009年第15期|151116.1-151116.3|共3页
  • 作者单位

    Institut d'Electronique Fondamentale, Universite Paris Sud, CNRS UMR 8622, Bat. 220, 91405 Orsay Cedex, France;

    Institut d'Electronique Fondamentale, Universite Paris Sud, CNRS UMR 8622, Bat. 220, 91405 Orsay Cedex, France;

    CEA-DRT/LETI, 17 rue des Martyrs, 38054 GRENOBLE cedex 9, France;

    Institut d'Electronique Fondamentale, Universite Paris Sud, CNRS UMR 8622, Bat. 220, 91405 Orsay Cedex, France;

    Institut d'Electronique Fondamentale, Universite Paris Sud, CNRS UMR 8622, Bat. 220, 91405 Orsay Cedex, France;

    CEA-DRT/LETI, 17 rue des Martyrs, 38054 GRENOBLE cedex 9, France;

    Institut d'Electronique Fondamentale, Universite Paris Sud, CNRS UMR 8622, Bat. 220, 91405 Orsay Cedex, France;

    CEA-DRT/LETI, 17 rue des Martyrs, 38054 GRENOBLE cedex 9, France;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号