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Coulomb interactions in sharp tip pulsed photo field emitters

机译:尖端脉冲光场发射器中的库仑相互作用

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摘要

Photofield emitters show great potential for many single electron pulsed applications. However, for the brightest pulses >10~(11)A/(m~2srV), our simulations show that Poisson statistics and stochastic Coulomb interactions limit the brightness and increase the energy spread even with an average of a single electron per pulse. For the systems, we study we find that the energy spread is probably the limiting factor for most applications.
机译:光场发射器在许多单电子脉冲应用中显示出巨大的潜力。然而,对于最亮的脉冲> 10〜(11)A /(m〜2srV),我们的仿真表明,即使每个脉冲平均只有一个电子,泊松统计和随机库仑相互作用也会限制亮度并增加能量扩散。对于系统,我们研究发现能量散布可能是大多数应用的限制因素。

著录项

  • 来源
    《Applied Physics Letters》 |2016年第15期|151901.1-151901.4|共4页
  • 作者

    Ben Cook; Pieter Kruit;

  • 作者单位

    Applied Physics Delft University of Technology, Lorentzweg 1,2628 CJ Delft, The Netherlands,Applied Materials, ICT GmbH, Ammerthalstr 20, 85551 Heimstetten, Germany;

    Applied Physics Delft University of Technology, Lorentzweg 1,2628 CJ Delft, The Netherlands;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

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