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Atomic accuracy models from 4.5 Å cryo-electron microscopy data with density-guided iterative local refinement

机译:来自4.5Å低温电子显微镜数据的原子精度模型并具有密度导向的迭代局部精细化

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摘要

Direct electron detectors have made it possible to generate electron density maps at near atomic resolution using cryo-electron microscopy single particle reconstructions. Critical current questions include how best to build models into these maps, how high quality a map is required to generate an accurate model, and how to cross-validate models in a system independent way. We describe a modeling approach that integrates Monte Carlo optimization with local density guided moves, Rosetta all-atom refinement, and real space B-factor fitting, yielding accurate models from experimental maps for three different systems with resolutions 4.5 Å or higher. We characterize model accuracy as a function of data quality, and present a model validation statistic that correlates with model accuracy over the three test systems.
机译:直接电子检测器使得使用冷冻电子显微镜单颗粒重建技术以接近原子的分辨率生成电子密度图成为可能。当前的关键问题包括如何最好地将模型构建到这些地图中,需要多高质量的地图来生成准确的模型以及如何以独立于系统的方式对模型进行交叉验证。我们描述了一种建模方法,该方法将蒙特卡洛优化与局部密度引导的运动,罗塞塔全原子细化和实际空间B因子拟合相集成,可以从实验图生成精度为4.5或更高的三种不同系统的精确模型。我们将模型准确性描述为数据质量的函数,并提出与三个测试系统上的模型准确性相关的模型验证统计量。

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