利用场发射显微镜研究单壁碳纳米管的场发射特性

摘要

利用场发射显微镜研究了单壁碳纳米管 (SWCNTs)的场发射特性。由于实验中所用的SWCNTs的长度基本一致 ,因此能同时观察到多根SWCNTs的场发射像。SWCNTs的场发射像随着热处理温度的升高而变化 ,直至热处理温度过高而塌缩。在一定的实验条件下 ,观察到了具有精细结构的单根碳纳米管顶端“帽子”的场发射像。电流 电压 (I U)曲线分析表明 ,SWCNTs的电流来源于场发射。