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(Pb1-xSrx)TiO3铁电薄膜电滞回线的测试分析

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摘要

采用磁控溅射法制备了PST薄膜,讨论了其制备工艺并着重对其电滞回线进行了测试分析.从测试结果来看,其饱和极化强度Ps典型值为19.0μC/cm2,剩余极化强度为6.6μC/cm2,矫顽场强为16 kV/cm,热释电系数为10-4量级.表明所制备的PST薄膜具有较好的铁电性能.

著录项

来源
《真空与低温》 |2006年第3期|142-144|共3页
作者
王茂祥; 孙平;
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作者单位

南京大学,工程管理学院,江苏,南京,210093;

南京大学,工程管理学院,江苏,南京,210093;

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正文语种 chi
中图分类电性质;
关键词
(Pb1-xSrx)TiO3薄膜; 磁控溅射; 电滞回线; 铁电性;

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