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用稳态卡计法对热控材料半球发射率的测试研究

         
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摘要

利用稳态卡计法设计了一种测试材料半球发射率的试验装置,并对其进行了不确定度分析.使用该装置对二次表面镜(OSR)的室温半球发射率进行了测试,测试结果不确定度小于2.00%.同时,使用该装置测试了OSR与一种新型相变材料在190～350 K间的半球发射率.

著录项

  • 来源
    《真空与低温》 |2009年第3期|153-155|共3页
  • 作者

    王毅; 尹文艳; 张建可; 冀勇夫;

  • 作者单位

    兰州物理研究所,真空低温技术与物理国家级重点实验室,甘肃,兰州,730000;

    兰州物理研究所,真空低温技术与物理国家级重点实验室,甘肃,兰州,730000;

    兰州物理研究所,真空低温技术与物理国家级重点实验室,甘肃,兰州,730000;

    兰州物理研究所,真空低温技术与物理国家级重点实验室,甘肃,兰州,730000;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 固体物理学;
  • 关键词

    稳态卡计法; 半球发射率; OSR; 相变材料;

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