片上系统测试数据压缩的优化型FDR编码机制(英文)

摘要

测试数据压缩是片上系统(System-on-chip,SoC)测试中的关键问题之一,用于有效地减少测试数据总量。本文提出了一种新颖的变长-变长压缩编码,称为AFDR(Advanced frequency-directed run-length)编码。它同时对0游程和1游程进行编码,并对等长游程赋以相同的编码,优化了仅仅考虑0游程的FDR(Frequency-directed run-length)码。此外,对游程长度为2的数据(即00和11)进行特殊处理,进一步地提高了压缩比。ISCAS89标准电路下的实验结果表明,AFDR编码的压缩效果明显优于FDR编码以及同类型的其他编码。