屏蔽类带状耦合微带线准静态特性分析的一个新方法

摘要

本文利用傅氏级数展开结合样条函数插值和变分技术对屏蔽类带状耦合微带线(两层介质厚度不同)的准TEM模特性进行了分析。首先,使用博氏级数将问题用公式表示,然后应用样条插值和变分技术获得实际解。它与有限元法十分相似,但它具有不必进行单元剖分,矩阵方程阶数低,解答精度高等优点。数值计算结果与文献值吻合很好。该方法还可推广应用于多层介质(n>2)填充的屏蔽耦合微带线的准TEM模特性分析,同时也可考虑导带厚度的效应。