机载电子设备BIT优化设计技术研究

摘要

机内测试(built-in test,BIT)可以提高机栽电子设备的任务可靠性,提升装备系统的任务效能.按照基于可靠性的BIT优化设计思想,分析了BIT对系统可靠性的影响,重点讨论了基于可靠性的BIT优化设计方法.提出了BIT优化设计的非线性整数规划(non-linear integer programming,NLIP)模型,并通过LINGO软件求解该模型.实例分析结果表明,该方法有效地降低了系统的故障率,提高了BIT设计指标.