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全球纳米技术领域专利计量分析

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摘要

运用专利计量方法,从纳米专利的年度分布、国家分布、机构分布和热点技术领域分布等方面对世界纳米技术发展前沿进行计量分析,以期对我国纳米技术的发展产生一定的促进和指导作用.

著录项

来源
《科技与经济》 |2008年第4期|38-40|共3页
作者
栾春娟; 侯海燕;
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作者单位

大连理工大学人文社会科学学院暨WISE实验室,辽宁,大连,116024;

大连理工大学人文社会科学学院暨WISE实验室,辽宁,大连,116024;

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正文语种 chi
中图分类法律;
关键词
纳米技术; 专利计量; 国家分布; 高产机构分布; 热点技术领域;

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