EDXRD安检系统衍射谱数据库的仿真研究

摘要

能量色散X射线衍射(EDXRD)系统在安检领域具有重要的应用前景.基于能量色散X射线衍射原理,以ICDD-JCPDS数据作为初始能谱信息,分析了X射线光源、系统结构、探测器分辨率及物质衰减效应对衍射能谱的影响,建立了与系统特性相对应的衍射谱仿真模型.利用该模型,仿真了不同结构参数EDXRD系统的衍射谱,仿真谱和实际测量结果吻合.在此基础上,仿真了海洛因和NH4NO3在不同晶体结构下的衍射能谱,为EDXRD安检系统的识别数据库提供了一种有效的构建方法.