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基于电压影响下圆偏振激光束的特性

         

摘要

采用狭缝光束分析仪和偏振仪测量了从铝薄膜表面反射的圆偏振光的光斑位置和偏振特性随外界直流电压变化情况,理论拟合激光从铝薄膜反射后的光斑位置与直流电流电压的关系.测量和多项式拟合结果表明,当外部电压值从0变化到2.5V时,圆偏振激光在x轴和y轴上的位置分别是从-45 μm移动到-95μm,从35 μm移动到75 μm,而激光束的光学偏振度基本上不变化.

著录项

  • 来源
    《光学仪器》 |2018年第1期|49-54|共6页
  • 作者单位

    上海理工大学光电信息与计算机工程学院,上海200093;

    上海理工大学上海市现代光学系统重点实验室,上海200093;

    上海理工大学教育部光学仪器与系统工程研究中心,上海200093;

    上海理工大学光电信息与计算机工程学院,上海200093;

    上海理工大学上海市现代光学系统重点实验室,上海200093;

    上海理工大学教育部光学仪器与系统工程研究中心,上海200093;

    上海理工大学光电信息与计算机工程学院,上海200093;

    上海理工大学上海市现代光学系统重点实验室,上海200093;

    上海理工大学教育部光学仪器与系统工程研究中心,上海200093;

    上海理工大学光电信息与计算机工程学院,上海200093;

    上海理工大学上海市现代光学系统重点实验室,上海200093;

    上海理工大学教育部光学仪器与系统工程研究中心,上海200093;

    上海理工大学光电信息与计算机工程学院,上海200093;

    上海理工大学上海市现代光学系统重点实验室,上海200093;

    上海理工大学教育部光学仪器与系统工程研究中心,上海200093;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 集成光学器件;
  • 关键词

    圆偏光; 直流电流; 位移; 斯托克斯参数; 光斑;

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