基于光电振荡器和高双折射光纤的应变测量

摘要

为了改善在复杂电磁环境下应变测量的性能,提出了一种基于光电振荡器(OEO)和高双折射(Hi-Bi)光纤的新型应变测量方案。应变会引起Hi-Bi光纤中快慢轴上传输的2个正交偏振光之间的相位差改变,通过合理控制输入到马赫-曾德尔调制器的光信号的偏振态,将该相位差变化映射至OEO振荡微波信号的频率变化,进而通过监测频率变化实现应变的解调。理论分析和实验结果表明,OEO产生的振荡微波信号频率与应变呈线性关系,所提应变测量方案的灵敏度为-369.3 Hz/με。