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软X射线能谱仪与透射光栅谱仪测量结果的对比

         
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摘要

对软X射线谱仪和透射光栅谱仪的测量结果进行了对比.它们的回推谱形大致符合,只是透射光栅谱仪的复原谱的N带相对于O带太小.其原因可能是X射线CCD受到靶室油沾污,在表面形成了碳膜,对N带吸收较多.经过对透射光栅谱进行吸收补偿后,两种谱仪的复原谱基本一致.

著录项

  • 来源
    《核聚变与等离子体物理》 |2000年第4期|209-212|共4页
  • 作者

    江少恩; 郑志坚; 杨家敏; 孙可煦; 丁耀南; 崔延莉;

  • 作者单位

    中国工程物理研究院激光聚变研究中心,四川绵阳,621900;

    中国工程物理研究院激光聚变研究中心,四川绵阳,621900;

    中国工程物理研究院激光聚变研究中心,四川绵阳,621900;

    中国工程物理研究院激光聚变研究中心,四川绵阳,621900;

    中国工程物理研究院激光聚变研究中心,四川绵阳,621900;

    中国工程物理研究院激光聚变研究中心,四川绵阳,621900;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 光谱测量;
  • 关键词

    软X射线谱仪; 透射光栅谱仪;

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