低本底反康谱顿的HPGe γ谱仪的调试

摘要

本文报道的低本底反康普顿ＨＰＧｅ γ谱仪，ＨＰＧｅ探测器对＾６０Ｃｏ的１３３２ｋｅＶ γ射线的相对探测效率为３８．３％，能量分辨率为１．７７ｋｅＶ。在阱型反符合屏蔽下，对放在探测器端面的＾１３７Ｃｓ点状薄膜源的峰康比可达６８５．８：１；测量时间１００ｍｉｎ，置信度９５％时，＾１３７Ｃｓ点源的最小判断限为１．１２×１０＾－４Ｂｑ。在物质屏蔽和阱型反符合屏蔽下，在５０～２１５２．８ｋｅＶ能区的积分本底