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基于133Ba标准源刻度131I取样滤盒γ总探测效率的方法研究

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介绍了一种基于133Ba标准源代替131I标准源刻度NaI(Tl)闪烁体探测器对131I取样滤盒的γ总探测效率的原理和方法.并从实验结果上比较了用133Ba标准源、131I标准源做的该总效率的刻度值,两者在6%的范围内一致.

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来源
《核电子学与探测技术》 |2006年第1期|115-117|共3页
作者
宋培峰; 凌球; 郭兰英; 屈国普;
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作者单位

南华大学核科学技术学院,湖南衡阳,421001;

南华大学核科学技术学院,湖南衡阳,421001;

南华大学核科学技术学院,湖南衡阳,421001;

南华大学核科学技术学院,湖南衡阳,421001;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类 TL751;TL812.1;
关键词
总探测效率; 效率刻度; 133Ba; 131I;

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