首页> 中文期刊> 《核电子学与探测技术》 >调节闪烁室法222Rn、220Rn测量仪器工作状态对探测效率的影响

调节闪烁室法222Rn、220Rn测量仪器工作状态对探测效率的影响

         

摘要

针对闪烁室法222Rn、220Rn的测量装置,介绍了一种调节测量仪器最佳工作状态的比较完善的方法,并用实验进行了探测效率比较.结果表明,通过调节闪烁室法测量222Rn、220Rn浓度装置的工作状态,可以提高仪器的探测效率约10%.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号