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基于切伦科夫探测器的高能双能X射线物质有效原子序数检测

         

摘要

介绍了采用切伦科夫探测器在高能双能X射线物质有效原子序数检测中的应用优势.采用电子加速器产生的X射线源的双能物质有效原子序数检测中,由于能量较低的X射线(低于0.5 MeV)占有重要的份额,其光电效应的存在干扰物质有效原子序数的检测,故一般需要加滤波材料降低其数量从而改善检测效果.切伦科夫探测器由于对X射线有探测阈值要求,可以不用加滤波材料即可实现物质检测功能;另外,对高能X射线有更好的相对能量响应是其在此方面应用的另一个优势.通过在一个双能检查系统(采用6 MeV和3 MeV电子加速器)的实验证明了这种设想,实验结果和预期的设想以及模拟计算结果相吻合.

著录项

  • 来源
    《核电子学与探测技术》 |2010年第8期|1012-1015|共4页
  • 作者单位

    清华大学工程物理系,北京,100084;

    粒子技术与辐射成像教育部重点实验室,北京,100084;

    清华大学工程物理系,北京,100084;

    粒子技术与辐射成像教育部重点实验室,北京,100084;

    清华大学工程物理系,北京,100084;

    粒子技术与辐射成像教育部重点实验室,北京,100084;

    清华大学工程物理系,北京,100084;

    粒子技术与辐射成像教育部重点实验室,北京,100084;

    清华大学工程物理系,北京,100084;

    粒子技术与辐射成像教育部重点实验室,北京,100084;

    同方威视技术股份有限公司,北京,100084;

    同方威视技术股份有限公司,北京,100084;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 原子能技术的应用;
  • 关键词

    切伦科夫探测器; 双能; X射线; 有效原子序数;

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