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静态随机存储器抗总剂量辐射性能筛选在线测试系统

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研制了一套SRAM总剂量辐射效应在线测试系统,该系统可同时对多个SRAM器件进行总剂量辐照效应在线测试,获得在γ辐照环境中静态功耗电流和出错数随总剂量的变化关系.进行了实际的SRAM器件辐照试验,测量得到了不同批次参数辐射响应的差异,并分析SRAM静态功耗电流和出错数受γ辐照的损伤机理.

著录项

来源
《核电子学与探测技术》 |2010年第3期|328-331,389|共5页
作者
于跃; 郭旗; 任迪远; 李鹏伟;
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作者单位

中国科学院研究生院,北京,100083;

中科院新疆理化所,乌鲁木齐,830011;

中科院新疆理化所,乌鲁木齐,830011;

中科院新疆理化所,乌鲁木齐,830011;

中国科学院研究生院,北京,100083;

中科院新疆理化所,乌鲁木齐,830011;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类微电子学、集成电路（IC）;
关键词
SRAM; 测试系统; 60Coγ总剂量; 损伤机理;

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